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AFM 原子力顯微鏡


您有薄膜表面量測、 奈米圖案化檢石墨烯高度量測、粗糙的困擾嗎 ?


我們提供優質的 AFM 原子力顯微鏡設備給您



產品特點介紹如下:

1. 提升製程良率 ------ 精準 、穩定的奈米表面量測,讓您精準量測薄膜表面型態,如厚度、高度、寬度、及粗糙度。

2. 提升量測速度 ------ 我們硬體及軟體的人性化設計,任何人都可以輕鬆、快速上手,量測速度最快可達到1分鐘出一張圖,且不失數據精準度,可以快速判斷製程參數是否需調整。
 
3. 降低成本 ------ a. 您無需另外聘請高階研發人員進行設備操作  b. 我們的 AFM 為目前市面上性價比最高的設備,價格更親民,您可以自由選配所需之功能無需額外負擔不要的複雜功能。

4. 任何時間 、場地量測不受限 ------ 優異的防震設計,讓您不會因為環境素而受到很多限制, 輕鬆取得 5nm 以下之解析度 。

5. 任何人都可以輕易上手 ------ 以往的 AFM 需要專門業的人員操作管理,此AFM 操作簡單 ,我們保證 30 min 內可以完成教育訓練,並讓任何人都可以快速、輕鬆上機操作。